MRAM用非接触電気検査装置UF series

 オー・エイチ・ティー社は、非接触電気検査技術をコア技術とした各種応用製品をお客様へお届けしています。本装置は、同社の技術をMRAM検査に特化した装置としてリリースされました。

 

  • 全自動でMRAM特性の計測が可能です。
  • 強力で均一な磁界を発生できます(最大1.5T、業界最高)。
  • 非磁性体のウエハーチャックを採用し、磁界の高速掃引が可能です(最大4Hz、±1T、業界最速)。
  • より高速に検査が可能な、全自動機のご提案も可能です。

全自動MRAMプローバ

  • 全自動でMRAM特性の計測が可能です
  • イニシャライザ―が組み込まれており測定前のイニシャライズ(リセット)を全自動で行え、計測時間を短縮できます
  • 強力で均一な磁界を発生します(プローバー:最大1.5T、イニシャライザ―:2.7T(業界最高)